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太阳能电池载流子特性分析系统直接反映了载流子在电场作用下的运动能力, 因此载流子迁移率的测量是有机半导体材料与器件研究中的重要内容。我公司推出有机太阳能电池OPV、钙钛矿太阳能电池、OLED器件和其他有机半导体器件载流子迁移率测量系统。
产品描述
太阳能电池载流子特性分析系统
详细说明: | |||
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近年来, 有机半导体材料与器件领域的研究和开发取得了日新月异的进展,其中有机电致发光二极管、有机薄膜晶体管、有机太阳能电池、有机存储器、有机传感器、有机激光器等相关有机半导体材料与器件的研究取得了大量的研究成果。随着有机半导体材料与器件研究和开发的深入, 有机半导体中载流子的传输能力是影响有机半导体器件性能的一个重要的因素。衡量有机半导体材料载流子传输能力的主要参数是载流子迁移率u, 它直接反映了载流子在电场作用下的运动能力, 因此载流子迁移率的测量是有机半导体材料与器件研究中的重要内容。 我公司推出有机太阳能电池OPV、钙钛矿太阳能电池、OLED器件和其他有机半导体器件载流子迁移率测量系统。 |
太阳能电池载流子特性分析系统
? 主要应用:
* 无机半导体光电器件,有机半导体光电器件;
* 有机太阳能电池OPV;
* 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell,钙钛矿LED;
* 无机太阳能电池(例如:单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池);
* 染料敏化太阳能电池DSSC;
? 主要测量功能:
* 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强,迁移率(I-V测试 & I-V-L测试,空间电荷限制电流SCLC法)
* 载流子密度,载流子动力学过程(瞬态光电流法 TPC)
* 载流子寿命,载流子符合动力学过程(瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV)
* 载流子迁移率(暗注入瞬态法 DIT,单载流子器件&OLED)
* 串联电阻,几何电容,RC时间(电压脉冲法 Pulse Voltage)
* 参杂密度,电容率,串联电阻,载流子迁移率(暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV)
* 载流子迁移率,载流子密度(光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV)
* 载流子复合过程,朗之万函数复合前因子(时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV)
* 不同工作点的载流子强度,载流子迁移率(注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV)
* 几何电容,电容率(MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV)
* 陷阱强弱度,等效电路(阻抗谱测试 IS)
* 迁移率,陷阱强弱度,电容,串联电阻(电容VS频率 C-f)
* 内建电压,参杂浓度,注入势垒,几何电容(电容VS电压 C-V)
* 点亮电压(电流电压照度特性 I-V-L)
* 发光寿命,载流子迁移率(瞬态电致发光法 TEL)
-整合了DC,AC and Transient mode
用于太阳能电池/OLED器件载流子特性测量与分析,通过对器件的变光强J-V曲线、瞬态光电流谱TPC,瞬态光电压谱TPV、线性增压载流子抽取Photo-CELIV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS、阻抗谱IS、电容电压谱CV、深能级瞬态谱DLTS等进行测量分析,表征器件的载流子迁移率、载流子寿命和浓度、载流子动力学过程、掺杂和陷阱分布等性能参数,从而对太阳能电池/OLED器件和其他有机半导体中的载流子迁移率进行有效的分析和测量。
测量参数
• Charge carrier mobility载流子迁移率
• Carrier lifetime载流子寿命
• Recombination efficiency复合效率
• Charge injection barriers电荷注入势垒
• Geometric capacitance几何电容
• J-V Curve电流-电压曲线
• J-V-L 电流-电压-亮度曲线
• Pmax、FF、Voc、Isc VS光强曲线
• Carrier lifetime载流子寿命
• Trap density陷阱密度
• Trap depth陷阱深度
• Doping density掺杂浓度
• Series resistance串联电阻
• Electrical permittivity介电常数
• Built-in voltage内建电场
• Emitter lifetime (OLED)发射寿命
• 软件后处理功能:可获得更丰富的测试数据
测量曲线:
技术规格
• 采样率:60MS/s
• 时间分辨率:16ns
• 频率范围:10mHz to 10MHz
• 电流分辨率:<100pA
• LED上升时间:100ns
• 电流范围:100mA
• 电压范围:±12V
可选功能
• Solar Cell Version or/and OLED Version
• Multi-LED模块:360nm~1100nm for EQE
• 变温测试台:-120 °C to 150 °C(多种可选)
• 光谱仪:OLED器件发光光谱测量
• SMU 扩展模块: 电压±60V,电流分辨1pA